T. Saravanapavan Präsentierende:r Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFPH. Jacob Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFPB. Wolter Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFPJ. Groenewold Institut für Produktionstechnik (WBK),Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

J. Hinken Präsentierende:r fitm Hinken Consult

I. Poschmann Präsentierende:r W.S. Werkstoff Service GmbHM. Batur CITECH AI GmbHM. Winning W.S. Werkstoff Service GmbH

F. Mielentz Präsentierende:r BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfungU. Effner BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfungE. Niederleithinger BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfungC. Friedrich Bundesgesellschaft für Endlagerung mbH (BGE)S. Schennen Bundesgesellschaft für Endlagerung mbH (BGE)L. Pascharat Bundesgesellschaft für Endlagerung mbH (BGE)

S. Kruschwitz Präsentierende:r Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) und TU BerlinA. Göller hf sensor GmbHF. RadtkeK. Reichling Hochschule für Angewandte Wissenschaften KielC. Strangfeld Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)C. Große Technische Universität München

R. Dendl Präsentierende:r Ingenieurbüro DENDL e.U.

K. Eickhoff VisiConsult X-ray Systems & Solutions GmbHR. Meinhardt Fraunhofer-Einrichtung für Additive Produktionstechnologien IAPTS. Kramer VisiConsult X-ray Systems & Solutions GmbHS. Grottker Fraunhofer-Einrichtung für Additive Produktionstechnologien IAPTF. Herold Präsentierende:r VisiConsult X-ray Systems & Solutions GmbH

A. Mikitisin Präsentierende:r Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie

A. Mikitisin Präsentierende:r iWP innovative Werkstoffprüfung GmbH & Co. KG

K. Müller Präsentierende:r VisiConsult X-ray Systems & Solutions GmbHF. Herold VisiConsult X-ray Systems & Solutions GmbH

M. Widjaja Bundesanstalt für Material- forschung und -prüfung (BAM)S. Roos Mid Sweden UniversityA. Evans Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)A. Koptyug Mid Sweden UniversityD. Meinel Präsentierende:r Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

H. Behnen RWTH Aachen UniversityJ. Werheid Präsentierende:r RWTH Aachen UniversityP. Pickmann RWTH Aachen UniversityS. Olbrych RWTH Aachen UniversityL. Adam RWTH Aachen UniversityA. Göppert RWTH Aachen UniversityA. Abdelrazeq RWTH Aachen UniversityR. Schmitt RWTH Aachen UniversityJ. Woltersmann RWTH Aachen University

W. Deutsch Präsentierende:r KARL DEUTSCHM. Spormann KARL DEUTSCHJ. Bolten KARL DEUTSCHD. Braun KARL DEUTSCHS. Robens KARL DEUTSCH

F. Lodholz Präsentierende:r edevis GmbH

H. Rast Präsentierende:r KARL DEUTSCH Prüf- und Messgerätebau GmbH + Co KGW. Deutsch Karl Deutsch Prüf- und Messgerätebau GmbH + Co KG

R. Delgado de Molina Präsentierende:r Tecnitest Ingenieros, S.L.I. Gauna Tecnitest Ingenieros, S.L.M. Acebes Tecnitest Ingenieros, S.L.

H. Springer Präsentierende:r Springer New Technologies GmbHF. Mainguy PRAGMA

K. Felbermayer Präsentierende:r RECENDT GmbHS. van Frank RECENDT GmbHE. Leiss-Holzinger RECENDT GmbHR. Zimmerleiter RECENDT GmbHC. Hesch RECENDT GmbH

H. Springer Präsentierende:r Springer New Technologies GmbHJ. Aigbotsua Baugh & Weedon LtdJ. Buckley Level X NDT / Baugh & WeedonI. Duling III Terametrix / Luna Innovations

H. Springer Präsentierende:r Springer New Technologies GmbHM. Smith DrM Consulting Services LtdJ. Hansen ETher NDE Limited

G. Mook Präsentierende:r Im RuhestandY. Simonin Otto-von-Guericke Universität Magdeburg

M. Stamm BAMS. Chaudhuri BAMJ. Lecompagnon Präsentierende:r BAM

J. Lecompagnon Präsentierende:r Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) A. Sarhadi Technical University of DenmarkR. Albuquerque Universität BayreuthM. Eder Technical University of Denmark

S. Becker Präsentierende:r Becker Photonik GmbH

A. Bevetskiy Präsentierende:r ACS-Solutions GmbHA. Bulavinov ACS-Solutions GmbHR. Pinchuk ACS-Solutions GmbHM. Okulla Otto Fuchs KGJ. Kiehn Otto Fuchs KG

S. Schneider Framatome GmbHA. Weber Präsentierende:r Framatome GmbH

F. Ahrens Präsentierende:r MQ Engineering GmbHF. Ahrens MQ Engineering GmbH

M. Schmitt Präsentierende:r DIN Deutsches Institut für Normung e. V.F. Bake BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfungT. Schwender Fraunhofer Institut für zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFPF. Baensch DIN Deutsches Institut für Normung e. V.D. Müller DIN Deutsches Institut für Normung e. V.

M. Schmitt Präsentierende:r DIN Deutsches Institut für Normung e. V.R. Casperson Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)M. Hauptvogel Institut Dr. Foerster GmbH & Co. KGT. Heckel Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

M. Ziegler Präsentierende:r Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)D. Müller DIN Deutsches Institut für Normung e. V.

O. Menzel Präsentierende:r htw saarB. Wolter Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren

T. Heckel Präsentierende:r Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)M. Schmitt DIN Deutsches Institut für Normung e. V.

T. Heckel Präsentierende:r Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)T. Homann Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)C. Hassenstein Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

L. Bazsanyi Präsentierende:r

R. Pinchuk ACS-Solutions GmbHA. Bulavinov Präsentierende:r ACS-Solutions GmbHR. Birringer ZWP-Anlagenrevision GmbH

F. Kahmann Waygate Technologies, Baker Hughes Digital Solutions GmbHF. Henrix Waygate Technologies, Baker Hughes Digital Solutions GmbHD. Werner Waygate Technologies, Baker Hughes Digital Solutions GmbHA. Franzen Waygate Technologies, Baker Hughes Digital Solutions GmbHT. Würschig Präsentierende:r Waygate Technologies, Baker Hughes Digital Solutions GmbH

A. Szewieczek Präsentierende:r Hillger NDT GmbHF. Odermann Hillger NDT GmbH

J. Hufert Präsentierende:r Institut für Kunststofftechnik, Universität StuttgartM. Kreutzbruck Institut für Kunststofftechnik, Universität Stuttgart

V. Stramka Präsentierende:r InSpecTegrity - Ingenieurbüro StramkaC. Kaps DGZfP e.V.

M. Pelkner Präsentierende:r Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)M. Melzer Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)A. Nicolicea Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)A. Aydogan Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung